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NLD觸摸屏耐電痕化指數(shù)實驗箱 測量在電壓高達600V時固體電氣絕緣材料在電場作用下表面暴露于含雜質的水時的相對耐電痕化性能。當將電壓施加到放在材料表面上規(guī)定 的電極裝置之間，且電解液以規(guī)定的時間間隔滴到兩電極之間時，在此試驗情況下可能產生電痕化。引起材料破壞所必需的液滴數(shù)隨著施加電壓的減小而增加，且在低于某一限值時，不發(fā)生電痕化。

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新款NLD系列耐電痕化指數(shù)測量儀測量在電壓高達600V時固體電氣絕緣材料在電場作用下表面暴露于含雜質的水時的相對耐電痕化性能。當將電壓施加到放在材料表面上規(guī)定 的電極裝置之間，且電解液以規(guī)定的時間間隔滴到兩電極之間時，在此試驗情況下可能產生電痕化。引起材料破壞所必需的液滴數(shù)隨著施加電壓的減小而增加，且在低于某一限值時，不發(fā)生電痕化。

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